測量儀 | 量測幾何公差的儀器及原理 | 從"0"開始學習幾何公差 | KEYENCE 台灣基恩斯

測量儀

正圓形度測量儀

正圓形度測量儀

正平直度正圓形度圓柱度平行度直角度同軸度圓偏轉度全偏轉等皆可量測的測量儀。通常附有旋轉平台,藉由將探針(接觸件)接觸目標物,即可量測各種幾何特性。

三次元測量儀

可以量測形狀公差定向公差以至於位置公差等各種幾何特性。

三次元測量儀
a
移動橋接器
b
載物台
c
觸發式探頭
d
控制部

接觸式的三次元測量儀藉由以探頭前端球體探針指定目標物的量測點或線,檢測三次元(X、Y、Z)上的座標值。由於是從檢測的座標值聚集中計算得出要素(直線、平面、圓、球體等),因此不僅複雜立體形狀物的長度,也可以精密量測角度、各要素間的位置關係、輪廓形狀、幾何偏差等。

三次元測量儀

以往安裝型為主流,但是有安裝空間、室溫管理、目標物尺寸受限於測量儀尺寸等諸多課題。而且,操作方法也很嚴苛,量測者需要極高的熟悉度。

但是,近年來,使用手持式探頭的精簡且可移動的三次元測量儀開發後,解決了諸多安裝型的課題。

專欄Column
最小二乘法

即使使用三次元測量儀探針指定量測所需的點,通過全部這些點的形狀可能從真實形狀變形。面對這種狀況,在量測後指定「最小二乘法」。

以圓為例,計算各量測點徑方向偏差及二乘和為最小的平均,即形成圓。

量測點
量測點
最小二乘法形成的形狀(紅線)
最小二乘法形成的形狀
(紅線)

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